工业显微镜的多种测量方式介绍

工业显微镜作为一种高精度的光学仪器，具有多种测量方式，以满足不同行业和领域的检测需求。以下是工业显微镜的几种主要测量方式介绍：

一、轴切法

轴切法是利用中央显微镜的标记对通过测件轴心线，并利用测量刀上的刻线进行瞄准定位的测量方法。测量时，将测量刀放在测量刀垫板上，刻线面通过测件的轴线，并使测刀的刃口和被测面紧紧接触。通过相应的米字线去瞄准，测量两把测刀刻线间的距离，从而间接测得被测件的测量值。这种方法主要用于螺纹中径测量，具有较高的精度和准确性。

二、影像法

影像法是利用中央显微镜的标记对影像进行瞄准定位的测量方法。测量时，先用分划板上的刻线瞄准测件影像的边缘，并在读数显微镜上读出数值。然后移动工作台，以同一条刻线瞄准测件影像的另一边，再作第E次读数。两次读数的差，即为被测件的测量值。这种方法适用于对测件影像边缘进行精确测量的场景。

三、接触法

接触法是利用中央显微镜的标记对和紧靠测件测量点、线、面的光学测孔器的测头连在一起的双刻线进行瞄准定位的测量方法。在测量孔径时，首先使测头与测件内孔接触，取得*大弦长后，使米字线中间刻线被光学测孔器的双套线套在中间，并在读数显微镜读取一数。然后改变测量方向，使测头在另一侧与测件接触，同样使米字线分划板的中间刻线仍被光学测孔器的双套线套在中间，在读数显微镜上读取另一数。两次读数的差，再加上测头直径的实际值，即为测件的内尺寸；如减去测头直径的实际值，则为测件的外尺寸。这种方法在孔径测量中非常实用。

四、直角坐标测定

直角坐标测定是工业显微镜中常用的一种测定方法，特别是在使用大型工具显微镜时。通过装配式旋转工作台或角度观测透镜，可以方便地测定测定物的直角坐标值。这种方法在机械制造、电子制造等领域具有广泛的应用。

五、角度测定

角度测定是工业显微镜的另一种重要测定方法。利用旋转工作台或角度观测透镜，可以精确地测定物体的角度。角度观测透镜的精度较高，能够满足对角度测量精度要求较高的场景。

六、高度测定

虽然小型工具显微镜无法直接测定高度，但可以通过将量银装在支柱的上端，然后利用显微镜的上下移动量来间接测定高度。然而，由于焦点深度、支柱倾度及量银和光轴间等因素的误差，这种方法的测定精度相对较低。大型工具显微镜则可使用重叠影象观测透镜或光学探测子来提高高度测定的精度。

七、孔径测定

孔径测定是工业显微镜在材料科学、生物医学等领域中常用的测定方法之一。通过光学测孔器或光学探测器等附件，可以精确地测定孔穴的内径。这种方法在微孔加工、材料表面处理等领域具有广泛的应用。

综上所述，工业显微镜具有多种测量方式，包括轴切法、影像法、接触法、直角坐标测定、角度测定、高度测定和孔径测定等。这些测量方式各具特点和应用场景，能够满足不同行业和领域的检测需求。随着科技的不断发展，工业显微镜的测量技术和功能也在不断提升和完善，为各行业的生产和研发提供了更加有力的支持。